典型用户

场发射扫描电子显微镜

扫描电镜（SEM）品牌：FEI 型号：Nova450

仪器名称：

场发射扫描电子显微镜

英文名称：

Field emission scanning electron microscope

所属分类：

分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜

学科领域：

材料科学电子与通信技术

主要技术指标：

分辨率：1.5nm ( 10KV)；2.5nm (1KV)；3.5nm (500V)；标样放大倍数：40倍～40万倍加速电压：200 V - 30 kV, 连续可调倾斜角度：-10°～45° EDAX能谱能量分辨率130eV，成分范围B~U，束斑影响区1μm左右 STEM附件可同时放置8个样品进行扫描透射观察，对低原子序数样品也可获得较好衬度的暗场像，特别适合高分子材料、生物材料的观察 OIM/EBSP分辨率达1300×1024以上，灰度4096，角度分辨率达0.5°以上，用来采集和分析扫描电镜中的电子背散射衍射花样，相鉴定数据库包揽七大晶系，功能十分强大。

主要功能：

实现固体样品的微观形貌观察和微区能谱成分分析及线分布、面分布分析，可对晶体样品的晶粒取向和取向关系等进行分析，还可以获取的电压下薄样品的明/暗场扫描透射像

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