典型用户

微区微量元素分析场发射扫描电镜

扫描电镜（SEM）品牌：日本电子型号：JSM-7900F

仪器名称：

微区微量元素分析场发射扫描电镜

英文名称：

Microelement Analysis Field Emission Scanning Electron Microscope

所属分类：

分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜

学科领域：

材料科学冶金工程技术化学工程

主要技术指标：

分辨率：0.6 nm at 15 kV，0.7 nm at 1 kV；放大倍数：10-50万倍；加速电压：0.01 kV~30 kV；束流强度：1 pA到500 nA；样品台最大偏压：5 kV；探测器：高位探测器（UED）、低位探测器（LED、背散射电子探测器（RBED）、平插能谱仪探测器（EDS)；EDS晶体活区：四个独立的高速SDD芯片成环形，面积为60 mm2；EDS能量分辨率：在100,000 CPS条件下Mn Kα保证优于129 eV；EDS最大输出计数率：1,600 kcps

主要功能：

实现在观察样品微观形貌的同时，对感兴趣微区的元素进行含量和价态分析

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