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场发射透射电子显微镜

透射电子显微镜(透射电镜、TEM) 品牌:FEI 型号:(TEM)FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN

仪器名称:
场发射透射电子显微镜

英文名称:
Transmission electron microscope

所属分类:
分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 其他

学科领域:
生物学 材料科学

主要技术指标:
透射电镜是利用电子的波动性,用电子束打在很薄的材料上,观察透射电子束的成像或者衍射光斑,得到材料形貌信息和晶向等结构信息,其主体部分是电子透镜和显像记录系统,由置于真空中的电子枪、聚光镜、物样室、 物镜、衍射镜、中间镜、 投影镜、荧光屏和照相机组成。 该透射电子显微镜加速电压为200kV,线分辨率可达0.14 nm,点分辨率可达0.2 nm,样品最大倾角为±40度。配有EDS及HAADF探头,单倾样品台,双倾样品台以及EDAX能谱仪、STEM扫描透射、EELS电子能量损失谱仪等附件。

主要功能:
实现材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析,提供亚显微结构或超微结构,极微细材料的组织结构、晶体结构、以及材料化学成分等方面的信息等,是材料科学研究的重要手段。

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中国科学院近代物理研究所拥有320kV高电荷态离子综合研究平台、X-射线辐照装置、离子色谱-电感耦合等离子体质谱联用仪、低放射性水平α粒子能谱仪、多腔低温杜瓦、超分辨单分子显微镜、分子动力学研究实验平台、高功率耦合器测试及研发系统、小动物麻醉呼吸、脑定位和光遗传系统、多腔低温杜瓦微波测试及辅助系统等科研仪器。

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