典型用户

高温集成电路动态老化系统

吸附管老化仪、活化仪品牌：杭州可靠性仪器厂型号：ELEA-J

仪器名称：

高温集成电路动态老化系统

英文名称：

IC Burn in test SYSTEM

所属分类：

工艺试验仪器 > 电子工艺实验设备 > 半导体集成电路工艺实验设备

学科领域：

电子与通信技术产品应用相关工程与技术

主要技术指标：

系统烘箱部分：温度：室温～150℃，过冲≤3℃，升温时间≤40min，温度偏差≤±2℃，温度均匀度≤4℃双重超温保护装置：系统电源与信号部分：整机一共20台25V/40A高可靠开关电源，32个老化工位，可进行32种器件老化，设备每个工位可以提供64路数字信号，4路模拟信号，并且一个老化工位可以回检64路回检信号；一级电源技术指标：输出电压范围：0～25V，输出电流范围：0～40A，纹波RMS：≤100mV，过压保护范围：5～25V，恒流保护范围：1～40A；二级电源指标：VCC,VMUX，VCLK,VEE输出电压1V～18V，电流10A（MAX），纹波≤10mV，程控分辨率100mV

主要功能：

对VLSI,LSI,MSI,SSI数字/模拟集成电路进行高温动态老化试验和监测

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