冷场发射扫描电子显微镜
扫描电镜(SEM)
品牌:TE
型号:S-4800
仪器名称:
冷场发射扫描电子显微镜
英文名称:
Field Emission Scanning Electron Microscope
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域:
材料科学
主要技术指标:
二次电子分辨率: 1.4nm (1 kV,减速模式) 加速电压: 0.5~30kV(0.1KV/步,可变) 放大倍率: x 20~ x 800,000 电子枪: 冷场发射电子源 样品台:I型50mm x 50mm标准样品台
主要功能:
微纳分析及表面材料分析