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JEM-2100F场发射透射电子显微镜

透射电子显微镜（透射电镜、TEM）品牌：日本电子型号：JEM-2100F

仪器名称：

JEM-2100F场发射透射电子显微镜

英文名称：

所属分类：

分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 其他

学科领域：

能源科学技术

主要技术指标：

1. 加速电压：200kV，稳定性≤1×10-6/min； 2. 电子枪：ZrO/W(100)，亮度4*108A/(cm2·sr)，真空度10-8Pa量级； 3. 束斑尺寸：TEM模式2.0nm-5.0nm，EDS/NBD/CBD模式0.5nm-2.4nm，STEM模式0.2nm-1.5nm； 4. 物镜：球差系数0.5mm，色差系数1.1mm； 5. 分辨率：点分辨率0.19nm，线分辨率0.10nm，STEM分辨率0.20nm； 6. 能谱仪：接收角0.13sr，谱线分辨率127eV； 7. 样品移动范围：X/Y方向平移范围±1.0mm，Z方向平移范围±0.1mm，X/Y方向倾转角度范围±25º；

主要功能：

微观形貌观察；选区衍射分析； EDS分析（点扫、线扫和面扫）；高分辨像观察；STEM明场和暗场像观察。

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