典型用户

扫描探针显微镜

电子探针X射线微区分析仪(EPMA) 品牌:SI 型号:SPI3800N+SPA300HV

仪器名称:
扫描探针显微镜

英文名称:
Scanning Probe Microscope

所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 电子探针

学科领域:
材料科学

主要技术指标:
工作模式:AFM,DFM,STM

主要功能:
扫描探针显微镜是用于测量材料表面特征的仪器。通过微小的探针在样品表面上扫描,以进行高放大倍数的观察。 主要用于测量物质的表面形貌、表面电势、摩擦力等表面特性。设备可对金属、半导体、陶瓷、有机物、高分子、生物体等样品的表面在纳米尺度下、在真空或大气中进行观察。可应用于材料科学、物理学、化学、电子学、半导体、生物及生命科学等领域。

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