扫描电子显微镜
扫描电镜(SEM)
品牌:日立
型号:S-3400N
仪器名称:
扫描电子显微镜
英文名称:
scanning electron microscope
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域:
材料科学 矿山工程技术 冶金工程技术 化学工程
主要技术指标:
SE分辨率3.0nm(30kV),10nm(3kV),高真空模式
BSE分辨率4.0nm(30kV)
放大倍率5~300000
加速电压0.3~30kV
带能谱仪
主要功能:
放大倍数可到7万倍
可进行点扫描、线扫描、面扫描、颗粒分析
可进行镀金、镀碳处理