反射率测定仪
污染指数（SDI）测定仪
品牌：CS
型号：SOC410
仪器名称：
反射率测定仪
英文名称：
所属分类：
分析仪器 > 电子光学仪器 > 其他
学科领域：
物理学 材料科学 能源科学技术 化学工程
主要技术指标：
主要技术特征：可测量包括13个光谱波段的反射率,可见光测量头测量范围为335 nm至2500 nm，红外测量头测量范围为1.5μm至远红外。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。
主要功能：
教学与科研
