高分辨率场发射透射电子显微镜
透射电子显微镜(透射电镜、TEM)
品牌:FEI公司
型号:Tecnai G2 F20 S-TWIN
仪器名称:
高分辨率场发射透射电子显微镜
英文名称:
无
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜
学科领域:
其他
主要技术指标:
分辨率:- 点分辨率:≤0.24nm - 晶格分辨率:≤0.102nm- 信息分辨率:≤0.14nm加速电压:- 加速电压:20kV-200kV;加速电压连续可调- 加速电压全程范围内切换仅需通过软件完成- 加速电压稳定度:≤1.0 ppm/10min电子枪:- 电子枪类型:肖特基场发射电子枪 扫描透射(STEM):- 分辨率:≤0.19 nm - 探头:高角环形暗场探头(HAADF)- 最大HAADF STEM接收角:≥13°(半角)- TEM与STEM模式相互切换后所需热稳定时间小于30秒- STEM放大倍数范围150x - 230Mx
主要功能:
无