超大规模集成电路测试系统

仪器名称：

超大规模集成电路测试系统

英文名称：

T2000 TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 数字电路测试系统

学科领域：

电子与通信技术

主要技术指标：

射频产品（RF）：可测试4G、5G通讯网络,MIMO，载波聚合，载波频率可达20G的移动终端射频前端器件，如：射频功率放大器、射频开关、双工器、滤波器和低噪声放大器等。数字产品(SOC)：可测试最新一代移动通讯基带和收发器产品，主频在1.2GHz以上，信号处理带宽高

主要功能：

本中心将专注于三大类产品测试服务及相关技术开发：1射频产品测试；2数字模拟与混合信号测试；3新兴器件测试（高像素图像传感器、指纹模组传感器）。