超大规模集成电路测试系统IP750

仪器名称：

超大规模集成电路测试系统IP750

英文名称：

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 数模混合信号测试系统

学科领域：

生物学

主要技术指标：

数字板：测试通道192 测试频率：100MHz LVM:16M DPS:8 CTO:1 ICUD:2

主要功能：

高速高质量图像传感器测试系统，提供高吞吐量和高并行测试效率、测试覆盖广泛的器件CCD和CIS，模拟和数字采集，并行图像传感器和逻辑测试