扫描电子显微镜
扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM)
品牌:日立
型号:S-3400NII
仪器名称:
扫描电子显微镜
英文名称:
Scanning Electron Microscope
所属分类:
分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 扫描探针显微镜
学科领域:
化学 纺织科学技术
主要技术指标:
分辨率: 二次电子(SE)像 高真空模式:30 kV时优于3.0 nm;3 kV时优于8.0 nm 低真空模式:30 kV时优于3.0 nm;3 kV时优于10.0 nm 分辨率: 背散射电子 (BSE) 像:30kV时优于4.0nm
主要功能:
材料微观放大成像,对表面形态内部组织结构及微粒分布。 材料微观区域化学成分分析 材料微观区域晶体结构分析。