扫描电子显微电镜
扫描电镜(SEM)
品牌:捷克FEI
型号:TeneoHiVac
仪器名称:
扫描电子显微电镜
英文名称:
Scanning Electron Microscope
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域:
化学
主要技术指标:
分辨率:二次电子(SE)像
15 kV时优于1.0 nm;1 kV时优于1.4 nm(非减速模式)
背散射(BSE)像: 1 kV时优于3.5 nm;15 kV时优于2.0 nm
放大倍率范围:1 ~ 1,000,000倍
主要功能:
材料的微观组织观察、夹杂物形态及定性分析、断口形貌观察以及微区成分分析等。