典型用户

YW-聚焦离子束微纳加工工作站-811

扫描电镜(SEM) 品牌:日本电子 型号:JSM-7610FPLUS

仪器名称:
YW-聚焦离子束微纳加工工作站-811

英文名称:
SEM

所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜

学科领域:
化学

主要技术指标:
SEM分辨率:二次电子成像:1.0 nm(加速电压为15 kV时); 1.3 nm(加速电压为1 kV时);分析时:3.0 nm(加速电压为15 kV,WD10 mm,5 nA时)

主要功能:
样品表面形态测试 图像分辨率高,特别是在低加速电压下仍保持很高的分辨率,适合于材料表面的高分辨图像观察,分辨率指标如下: 0.8nm (二次电子,加速电压:15kV) 1.0nm (二次电子,加速电压:1kV)突出的低压分辨率

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中国科学院新疆理化技术研究所拥有YW-X射线单晶衍射仪-610、YW-微纳结构激光成像与测试系统-813、YW-低剂量辐照装置、YW-大规模电路测试系统、YW-台式扫描电子显微镜-921、YW-三重四级杆-线性离子阱质谱仪、YW-热释光/光释光仪、YW-纳米压痕仪-905、YW-全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪-109、折射率测量仪等科研仪器。

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