典型用户

X射线荧光测厚仪

其它测厚仪品牌：FIS 型号：XDV-SDD 型

仪器名称：

X射线荧光测厚仪

英文名称：

X ray Fluorescence Thickness Instruments

所属分类：

计量仪器 > 长度计量仪器 > X荧光测厚仪

学科领域：

物理学

主要技术指标：

±5%，测量范围(0～110)μm

主要功能：

检测镀层厚度

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典型用户

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江苏省科研单位

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