典型用户

LEM综合测试台

透射电子显微镜(透射电镜、TEM) 品牌:EMS 型号:SPEC-4090tq

仪器名称:
LEM综合测试台

英文名称:

所属分类:
工艺试验仪器 > 电子工艺实验设备 > 半导体集成电路工艺实验设备

学科领域:
其他

主要技术指标:
静态:10000V/500mA 动态:4000A/9000V 压力:5-200kN 温度:室温-200℃

主要功能:
测试晶闸管或整流器件参数,如ID、IR、VD、VR、IGT、VGT、VT、IH、IL、QRR、tq、dv/dt等

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典型用户

新型功率半导体器件国家重点实验室

北京市 科研单位

新型功率半导体器件国家重点实验室拥有IGBT集电极-发射极阻断断测试台、IGBT功率循环测试台、高温反偏阻断台3#、扫描电子显微镜、高温反偏阻断试验台、IGCT综合测试设备、Si 高温氧化炉、IGBT动态测试台、IGBT被动热循环测试台、电子直线加速器等科研仪器。

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