X射线光电子能谱仪
X射线能谱仪(EDS)
品牌:RA
型号:Kratos AXIS Ultra DLD
仪器名称:
X射线光电子能谱仪
英文名称:
所属分类:
分析仪器 > X射线仪器 > X射线能谱仪
学科领域:
其他
主要技术指标:
能量分辨率: 0.48 eV (Ag 3d5/2)
采样深度: 1-10 nm
采样区域: 15- 2000 μm椭圆
成像空间分辨率: 3 μm
分析腔压力: 5 × 10-10 mbar
X-射线源最大功率: 450 W
单色化Al Kα半峰宽:<0.26 eV
能量分析器半径:165 mm
检测器: 128通道DLD检测器
荷电中和方式:同轴荷电中和
主要功能:
除H、He外的元素鉴定;通过光电子峰、俄歇电子峰结合能的变化考察化学价态;原位/准原位反应研究催化反应中间过程;表面元素相对百分含量与配位状态研究;特定元素成像获得元素空间分布信息;