典型用户

YW-红外椭偏仪

红外光谱(IR、傅立叶) 品牌：TE 型号：SENDIRA

仪器名称：

YW-红外椭偏仪

英文名称：

Ifrared Spectroscopic Ellipsometry

所属分类：

分析仪器 > 光谱仪器 > 红外光谱仪

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

Wavelength range: 400 cm-1-6000 cm-1 ;•Separate ellipsometer optics, ellipsometer uses external port of FT-IR instrument ;Complete accessible FT-IR spectrometer ;Large samples, maximal sample size 200 mm diameter, maximal sample height 8 mm ;Ellipsometric, transmission and reflection measurements with polarized light ;Variable incident angle of light (VASE) ;SENTECH comprehensive software for spectroscopic ellipsometry SpectraRay

主要功能：

测量薄膜厚度

典型用户

中国科学院新疆理化技术研究所

新疆维吾尔自治区高校

中国科学院新疆理化技术研究所拥有YW-X射线单晶衍射仪-610、YW-微纳结构激光成像与测试系统-813、YW-低剂量辐照装置、YW-大规模电路测试系统、YW-台式扫描电子显微镜-921、YW-三重四级杆-线性离子阱质谱仪、YW-热释光/光释光仪、YW-纳米压痕仪-905、YW-全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪-109、折射率测量仪等科研仪器。

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