典型用户

半导体参数仪

电子/半导体品牌：HL 型号：4200-SCS

仪器名称：

半导体参数仪

英文名称：

Semiconductor parametron

所属分类：

其他仪器 > 其他 > 其他

学科领域：

物理学

主要技术指标：

4200-SCS/F半导体特性分析系统主机，2个高分辨率中功率SMU 最大电流100mA，最大电压200V，最大功率2W 4200-SMU高分辨率中功率SMU（源测量单元）最大电流100mA；最大电压200V；最大功能2W；配置有4200-PA，扩展电流分辨率至0.1fA 4200-CVU C-V测试单元，扫描频率范围1KHZ-10MHz

主要功能：

物理参数测量

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