典型用户

YW-霍尔测试系统-207

其它通用分析品牌：MMR 型号：K2500

仪器名称：

YW-霍尔测试系统-207

英文名称：

所属分类：

电子测量仪器 > 通用电子测量仪器 > 其他

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

测试范围： Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数；强度： 0.5T 电磁体（0.5T 永磁体 / 1.4T 电磁体两种磁场可选）；磁场类型：电磁体；磁场均匀性：磁场不均匀性＜±1 % ；温度区域： 80K ~730K ；温控精度： 0.1K ；温控稳定性： ±0.1 K ；电阻率范围： 10-6~1013 Ohm*cm 电阻范围： 10 m Ohms~ 10G Ohms 载流子浓度： 102~1022cm-3 迁移率： 10-2~109 cm2/volt*sec

主要功能：

霍尔效应测试

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典型用户

中国科学院新疆理化技术研究所

新疆维吾尔自治区高校

中国科学院新疆理化技术研究所拥有YW-X射线单晶衍射仪-610、YW-微纳结构激光成像与测试系统-813、YW-低剂量辐照装置、YW-大规模电路测试系统、YW-台式扫描电子显微镜-921、YW-三重四级杆-线性离子阱质谱仪、YW-热释光/光释光仪、YW-纳米压痕仪-905、YW-全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪-109、折射率测量仪等科研仪器。

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