典型用户

半导体特性分析系统

电子/半导体 品牌:HL 型号:4200-SCS/F

仪器名称:
半导体特性分析系统

英文名称:
Semiconductor Characterization System

所属分类:
分析仪器 > 电化学仪器 > 其他

学科领域:
物理学 材料科学

主要技术指标:
最大电压输出≥200V,电压源分辨率≤10μV; 最大电流输出≥100mA,电流源分辨率≤10fA;电压测量范围包含10μV~200V;电流测量范围包含10fA~100mA;配有多路扩展槽或扩展接口,具有电流放大器、脉冲I-V、C-V以及其他外接标准程控接口仪器的扩展能力。扩展槽及扩展接口的附件与仪器的软件系统兼容;脉冲扫描频率范围包含10KHz~5MHz;

主要功能:
用于功能薄膜材料及器件的直流或脉冲参数测试,测试薄膜材料或器件的I-V曲线、C-V曲线等电学特性数据。

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北京印刷学院拥有面部表情捕捉系统、便携立体播放器系统、立式加工中心、显微共焦拉曼光谱仪、卷绕磁控溅射镀膜机、薄材叠层快速成形系统、ABS200数控加工系统、电致发光性能及QE测试系统、互动投影多点触控系统、高精度湿度仪等科研仪器。

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