场发射扫描电镜
扫描电镜(SEM)
品牌:ISS
型号:merlin compact
仪器名称:
场发射扫描电镜
英文名称:
FE Scanning Electron Microscop
所属分类:
分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 其他
学科领域:
其他
主要技术指标:
电镜分辨率: 0.8 nm @ 15kV, 1.6 nm @ 1kV
能谱仪分辨率: Mn Ka≤127eV, C Ka≤54eV
主要功能:
用于各种材料的形貌观察、元素组成和分布测试,如金属、纳米颗粒和粉末、多孔物质、电子器件、陶瓷、有机高分子材料、晶体材料、各类薄膜材料、催化剂材料等物质。