扫描电子显微镜
扫描电镜（SEM）
品牌：OM
型号：ProX Pure Plus
仪器名称：
扫描电子显微镜
英文名称：
scanning electron microscope
所属分类：
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域：
环境科学技术及资源科学技术
主要技术指标：
放大倍率：集成在电镜中的彩色光学显微镜放大20-135倍，电子放大65000倍(非数字放大)
背散射电子探测器分辨率：优于 25nm
加速电压： 5kV-10kV连续可调，束斑直径大小可连续可调
灯丝材料：CeB6
预抽真空时间：小于15s
自带自动样品台控制，高清屏操作界面配合样品电子光学导航
检测信号：高灵敏度背散射电子探测器
观察模式：全面模式(形貌和成份)、形貌模式A（3D）、形貌模式B（3D）
数据存储：移动硬盘或者电脑、网络存储
X射线能谱仪参数
探测器类型：氮化硅硅漂移探测器（SDD）
探测器晶体活性面积：25mm2
冷却方式：无液氮 Peltier 效应制冷
能量分辨率：<137ev（mn kα)="" 元素探测范围：b（5）-am（95）="" 元素分析：自动和手动元素确认="" 检测限：0.1%（质量百分比）="" 可支持图片最大像素="">
主要功能：
颗粒物观测、材料断面观测
