场发射扫描电子显微镜
扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM)
品牌:日本电子
型号:JSM-7800F
仪器名称:
场发射扫描电子显微镜
英文名称:
Field Emission Scanning Electron Microscope
所属分类:
分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 扫描探针显微镜
学科领域:
材料科学
主要技术指标:
二次电子分辨率:0.8nm (15kV)1.2nm (1kV)背散射电子分辨率:1.5nm 放大倍数:25 to 1,000,000x ?加速电压:0.01 to 30kV ?束流强度:200 nA(15kV)?
主要功能:
用于观察固体样品表面微区形貌和结构,也可以对样品的化学成分进行定性、半定量分析。