X射线数字成像系统（CR）
X荧光光谱、XRF（波长色散型X荧光光谱仪）
品牌：GE
型号：ERESCO65MF4
仪器名称：
X射线数字成像系统（CR）
英文名称：
所属分类：
分析仪器 > X射线仪器 > 其他
学科领域：
动力与电气工程
主要技术指标：
系统分辨率：16Lp/cm~40Lp/cm、50Lp/cm~60Lp/cm，系统灵敏度：1~2%
主要功能：
电子拍片、图片存储优化，窗口、窗位技术、多种平滑降噪选择， 2—512图像降噪，提高图片分辨率、灵敏度，边缘增强、锐化、负像、伪彩色、实时放缩。
