激光显微拉曼成像光谱仪
激光诱导击穿光谱仪（LIBS）
品牌：FIS
型号：DXRxi
仪器名称：
激光显微拉曼成像光谱仪
英文名称：
Raman
所属分类：
分析仪器 > 光谱仪器 > 拉曼光谱仪
学科领域：
材料科学
主要技术指标：
1. 通光效率：光学系统采用独特消像散反射式光路设计，全光谱范围无色差，系统通光效率>30%。 2. 灵敏度：单晶硅三阶峰的信噪比优于25:1，可观察到四阶峰。 （检测条件：使用单晶硅片，波长532 nm，样品点功率10mW，狭缝宽度（或针孔） 25微米，总曝光时间300秒,binning = 1，50X或100X显微物镜）。 3. *光谱分辨率：<1.5cm-1><1.5cm-1）。 4.="" 光谱重复性：优于±0.2cm-1="" （检验方法：使用表面抛光的单晶硅样品，50×物镜，光谱范围50～3500cm-1，重复20次。观测硅一阶拉曼峰（520cm-1），520峰中心位置重复性≤±0.2="" cm-1）="" 5.="" *共聚焦技术：="" （1）*软件控制针孔式共聚焦技术，以保证层析测量的精度。="">
主要功能：
研究级激光显微拉曼光谱仪，具有新型快速拉曼成像、自动化光学控制系统、高灵敏度智能化检测方式、多功能软件及最大数据库等分析功能；仪器采用I 级激光安全等级标准和模块化高稳固设计，仪器的研究级显微镜、高分辨率光栅、高性能EMCCD探测器，以及光学系统的主要部件与浇铸合金基座整体结合，保证系统高稳定性。
