典型用户

场发射扫描电镜

透射电子显微镜（透射电镜、TEM）型号：SU8220

仪器名称：

场发射扫描电镜

英文名称：

SEM

所属分类：

分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜

学科领域：

化学材料科学

主要技术指标：

分辨率：1.0nm (15 kV)； 1.4nm(1 kV, WD 1.5mm, 减速模式)；2.0nm (1 kV, WD 1.5mm, 普通模式）放大倍数：30倍-800,000倍；电子枪：冷阴极场发射电子源 ; 加速电压:0.5-30kV (0.1KV/步，可变，普通模式) 样品台： X: 0-50mm Y: 0-50mm, Z:1.5-30mm, T: -5-70°,R:360°, 样品尺寸最大直径：100mm（标准）信号选择：二次电子模式和背散射模式，X射线信号，辅助信号

主要功能：

（1）形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观察，同时还可对材料断口和失效进行分析（2）微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成。

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