典型用户

聚焦离子束-扫描电镜

扫描电镜（SEM）品牌：FEI公司型号：Helios NanoLab 650

仪器名称：

聚焦离子束-扫描电镜

英文名称：

FIB-SEM

所属分类：

分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜

学科领域：

其他

主要技术指标：

分辨率：4.5 nm 离子束流： 1.1 pA ～ 65 nA 最小切片厚度：3 nm 分辨率: 0.8 nm@15kV 加速电压：200V ～ 30KV 电子束流：1.6pA ～ 26nA

主要功能：

聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）是集高分辨率扫描电镜（SEM）的成像功能和聚焦离子束（FIB）的切割功能为一体的双束系统，结合氩离子抛光设备可对页岩的纳米级孔隙结构、有机质和矿物进行高精度的二维和三维成像。

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页岩油气富集机理与有效开发国家重点实验室拥有动态滤失与地层伤害实验系统、压裂液高温高压耐酸流变仪、高温高压腐蚀测定仪、重量法吸附仪、ICP(感应耦合等离子体)分析仪、润滑性评价及钻头泥包评价系统、流体包裹体红外显微镜、化学反应釜、凝胶渗透色谱仪、聚焦离子束-扫描电镜等科研仪器。

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