典型用户

高分辨透射电子显微镜系统

透射电子显微镜(透射电镜、TEM) 品牌:日本电子 型号:EM-2100F

仪器名称:
高分辨透射电子显微镜系统

英文名称:
Field Emission Electron Microscope

所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜

学科领域:
材料科学

主要技术指标:
1.Point Resolution: 0.23nm 点分辨率:0.23nm 2. Lattice Resolution: 0.102nm 晶格分辨率:0.102nm 3. Lattice Resolution on STEM image: 0.20nm 扫描透射附件分辨率:0.20nm 4. Minimum Spot Size: 0.5nm 束斑尺寸:0.5nm 5. Accuracy of Magnification: ± 10% 放大倍数误差: ± 10% 6. Vacuum: Less than 2?10-5 Pa 真空度:优于2×10-5 Pa 7. Specimen Tilt Angle 样品倾斜角 X: 35? (Shift X=0, Y=0, Z=0) X轴:±35° (Shift X=0, Y=0, Z=0) Y: ?30? (Shi

主要功能:
高分辨成像,电子衍射,STEM BF HAADF成像,EDX元素分析。

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