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高分辨透射电子显微镜

透射电子显微镜(透射电镜、TEM) 品牌:日本电子 型号:JEM-F200

仪器名称:
高分辨透射电子显微镜

英文名称:

所属分类:
分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 其他

学科领域:
化学 材料科学

主要技术指标:
晶格分辨率指标为 0.1nm;点分辨率满足 0.23nm ;冷场发射 JEM F200 的 S TEM 指标:200KV 下 BF的指标为 0.16nm, HAADF的指标为 0.16nm;JEMF 200的最小束斑尺寸的指标为 0.5nm;JEMF200 在 200KV 下放大倍数误差范围为小于 10%;F200 所配备的能谱的能量分辨率指标为 133 eV

主要功能:
高分辨透射电子显微镜主要用于纳米材料的微结构表征研究和检测。采用该设备,纳米材料的内部结构、尺度分布、形貌、暴露晶面、组成分布可以精确的表征出来。

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