典型用户

半导体参数测试仪

电子/半导体品牌：美国吉时利型号：S530

仪器名称：

半导体参数测试仪

英文名称：

S530 Semiconductor Parameter Tester

所属分类：

其他仪器 > 其他 > 其他

学科领域：

工程与技术科学基础学科信息与系统科学相关工程与技术

主要技术指标：

1.小电流i-v ：超低漏电流（fA），最大电压200V，最大电流1A； 2.高电压I-V ：最大电压1000V； 3.通用I-V ：适合于大多数参数测试； 4.c-v单元：能够在1MHz下测量10pF电容，准确度达1%。

主要功能：

自动完成多路硅微条探测器中多条探测单元的I-V特性、C-V特性、击穿特性等参数测量，无需人工一点一点的测量。其主要任务是快速高效地甄别多路硅微条探测性能，从而优化工艺，提高探测器性能，更好的服务于核物理实验。

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典型用户

中国科学院近代物理研究所

甘肃省高校

中国科学院近代物理研究所拥有320kV高电荷态离子综合研究平台、X-射线辐照装置、离子色谱-电感耦合等离子体质谱联用仪、低放射性水平α粒子能谱仪、多腔低温杜瓦、超分辨单分子显微镜、分子动力学研究实验平台、高功率耦合器测试及研发系统、小动物麻醉呼吸、脑定位和光遗传系统、多腔低温杜瓦微波测试及辅助系统等科研仪器。

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