典型用户

12英寸晶圆自动测试探针系统

集成电路测试仪 品牌:东京精密 型号:UF3000EX-E12

仪器名称:
12英寸晶圆自动测试探针系统

英文名称:
12-inch wafer prober

所属分类:
电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 其他

学科领域:
电子与通信技术 信息与系统科学相关工程与技术

主要技术指标:
12英寸晶圆探针台

主要功能:
自动测试探针系统为晶圆测试分析提供必要的手段,可提供电源、数字信号、模拟信号等晶圆验收测试所需的环境,具有高速数据处理能力,自动测试探针系统是晶圆验收测试的关键设备。

典型用户

上海集成电路技术与产业促进中心

上海市 科研单位

上海集成电路技术与产业促进中心拥有逻辑分析仪、数字信号分析仪、电波暗室(含全自动三维转台和导轨)、NFC测试系统、安奈特无线信道仿真仪、高性能码型发生检测设备(误码仪)、Voyantic RFID测试仪、射频阻抗/材料分析仪、网络分析仪、12英寸晶圆自动测试探针系统等科研仪器。

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