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双束聚焦离子束显微镜

聚焦离子束显微镜 品牌:FEI 型号:DB237

仪器名称:
双束聚焦离子束显微镜

英文名称:
Dual Beam Focused Ion beam

所属分类:
分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 其他

学科领域:
电子与通信技术

主要技术指标:
加速电压:30KV;电子束放大倍率:200K;离子束放大倍率:50K;电子束高真空:<>

主要功能:
芯片失效分析及线路修补

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闳康技术检测(上海)有限公司拥有三维数位显微镜、热发射显微镜、全自动抗静电抗拴锁试验设备、扫描超声波显微镜、二次离子质谱仪、IC芯片线路缺陷检测仪、高阶埃克斯光检测系统、微光显微镜、高性能双束聚焦离子束显微镜、高阶扫描超声波显微镜等科研仪器。

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