典型用户

样品微加工系统

扫描电镜（SEM）品牌：德国型号：Crossbeam 340

仪器名称：

样品微加工系统

英文名称：

non

所属分类：

分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜

学科领域：

物理学化学材料科学

主要技术指标：

蔡司 Crossbeam 340 电子显微镜让开放式三维纳米工作站带您领略高效工作流程加速断层扫描成像速度，运用具有出色斑状剖面的 FIB 束流填补微纳加工空白。 Crossbeam 系统将 GEMINI 镜筒的成像和分析性能与用于纳米级材料加工和样品制备的新一代聚焦离子束相结合。借助模块化平台的设计理念和易于扩展的开放式软件架构，即便是难于成像、充电或磁性样品，它也能高效地完成纳米断层成像和纳米加工。在更短时间内收集更丰富的信息加快纳米断层成像和纳米加工的速度：将低电压 SEM 性能与高达 100 nA 的 FIB 束流相结合。获取丰富的信息：运用多探测器采集及同步刻蚀与成像能力。使用 GEMINI 技术和可选配的 ATLAS 3D 软件包检测高达 50 k x 40 k 像素的大视野范围。蔡司 Crossbeam 340 电子显微镜全方位流程控制在对环境条件要求苛刻的长时间实验中具备高稳定性，并能够提供均匀一致的光束剖面。采集时可以完成系统参数的实时更改，如探针电流或加速电压，而无需对图像进行调整。

主要功能：

蔡司 Crossbeam 340 电子显微镜让开放式三维纳米工作站带您领略高效工作流程加速断层扫描成像速度，运用具有出色斑状剖面的FIB束流填补微纳加工空白。 Crossbeam 系统将 GEMINI 镜筒的成像和分析性能与用于纳米级材料加工和样品制备的新一代聚焦离子束相结合。