FEI场发射扫描电子显微镜
扫描电镜(SEM)
品牌:FEI公司
型号:Nova NanoSEM 450
仪器名称:
FEI场发射扫描电子显微镜
英文名称:
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域:
化学 基础医学 材料科学
主要技术指标:
Schottky肖特基场发射电子枪
高真空模式分辨率:1nm ( 15KV),1.4 nm (1KV)
低真空模式分辨率:1.5nm(10kV),1.8nm(3kV)
标样放大倍数:20倍~100万倍
加速电压:50V - 30kV,连续可调
电子束流范围: 0.6pA - 200nA, 连续可调
探测器:二次电子探测器(ETD、TLD);背散射探测器(CBS);低真空探测器(LVD);IR-CCD相机;导航相机Nav-Cam
五轴马达驱动;
移动最大距离:X=Y=110mm,Z=25mm;
体旋转最大角度:T=90°;
平面旋转R=360°,重复精度<2μm>2μm>
主要功能:
该仪器可实现样品的微观形貌观察、微区能谱成分分析、线分布、面分布分析及晶体样品的晶粒取向和取向关系等分析;配备的背散射探头可获得样品的成分衬度图片;配备的低真空探头可对不导电样品进行形貌及成分分析,而不需要进行喷金处理。