典型用户

高温寿命仪

其它通用分析品牌：MC 型号：HPB-5C

仪器名称：

高温寿命仪

英文名称：

HTOL

所属分类：

电子测量仪器 > 其他 > 其他

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

HPB-5C是用于大功率可高？_150W，超大规模集成电路芯片的各种老化测试设备。老化炉的配置为有16块老化板，且每块老化板可以最多同时测试24个芯片，vector memory最高为64M。此系统在老化测试时，最高温度可以达到150度。所有系统中的老化板都由PLC控制，PLC控制并监控系统的老化测试的整个过程。机台拥有强大的测试功能，能提供128个信号测试通路。

主要功能：

该机台通过编程设定，可以实现加热到预设温度25~150℃，将需要做耐高温测试的芯片，放到半导体老化测试炉中，老化筛选的原理及作用是给电子元器件施加热的、电的或者多种结合的外部应力，模拟恶劣的工作环境，使它们内部的潜在故障加速暴露出来，然后进行电气参数测量，此参数为电压电流参数,依据实验前后是否有异常变化,比如忽然变大变小来筛选剔除那些失效或变值的元器件，尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。