XRF荧光光谱仪薄膜标准样品

XRF荧光光谱仪薄膜标准样品

B47型单元素薄膜标准样品3000

奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备,能够制备单元素、多元素、化合物以及土壤混合物等类型的薄膜标准样品。具有膜层厚度控制精确，厚度均匀，性能稳定等优点，元素纯度可达99.9%以上；同时综合ICP和XRF等检测技术，可精确标定薄膜标样的负载量。并提供具有朔源性的第三方检测报告。

《HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》以及《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样建立仪器的工作曲线。

XRF薄膜标准样品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五个负载量系列，其他负载量的产品可根据客户实际需求定制。

在实际的空气监测应用中，根据《HJ830-2017环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》和《HJ829-2017环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》所测得的数据通常偏低；而传统薄膜标准样品的浓度跨度较大，负载量偏高，不利于标定曲线的建立以及低浓度无机元素的精确测量。

为解决这一问题，奥富森公司针对《HJ830-2017》、《HJ829-2017》和最新《HJ1329-2023》推出了空气监测专用系列薄膜标准样品(AtmosphereMonitoringSeries)，分为S(0.4-1.6μg/cm2)、SM(2-4μg/cm2)、M(8-12μg/cm2)、LR(17-23μg/cm2) 、R(40-60μg/cm2)五个负载量。这一系列样品经过特别优化，其负载量较低，更加符合空气监测的实际应用需求。

可供应的XRF单元素薄膜标准样品的元素如下：

XRF薄膜标准样品的安装形式：

1、 安装环尺寸（厚度为1.5mm的亚克力玻璃）

圆形：

    推荐47号尺寸。

方形：

    50x50mm方形尺寸，内置ø32mm的圆环，代码50。

2、 支撑膜材料

推荐N型材料。

3、 镀膜方式：

推荐B模式。

具体型号请咨询厂家

联系电话：18611477178

联系人：谢充

电子邮件：xc1977@126.com