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案例分享[高光谱成像技术]面粉无损检测

森泉光电

2019/09/23 16:50

阅读:469

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应用案例分享[高光谱成像技术]面粉无损检测

 

背景

面粉(小麦粉)是中国北方大部分地区的主食,用面粉制成的食物品种多样如:面条、馒头、水饺等生活中我们都是依据外包装上的高筋粉、中筋粉低筋粉、全麦面粉等信息进行采购。很多人在购买面粉的时候会误以为"高筋面粉=高精面粉",其实"高精"的意思简单说就是高级精制,它只表示小麦的加工工艺,并不能说明面粉的筋度,其蛋白质的含量,决定面粉的“筋度”,即高筋、中筋、低筋。同时,面粉中蛋白质、淀粉、脂肪、矿物质的含量会直接影响面粉的等级。

QQ截图20190923164531.jpg

高光谱成像技术不仅有样品图像的信息,并且还可以获得图像上每个点的光谱数据,光谱可以反映特定波长的特征信息,从而获得更全面、更可靠的结果,以及更精确的信息,如糖、脂肪和蛋白质等等。

随着生活水平的提高及食品产业规模化,食品品质的提高和改良倍受关注。传统的化学检测手段、精度、效率都不高。亟需建立一种新的能够应用于面粉质量分级的快速无损检测方法。


实验设置

基于漫反射方式采集面粉的高光谱数据,我们用Camlin型号VNIR-HR(光谱范围400-1000nm)NIR-HR+(光谱范围900-1700nm)范围内反射光谱,建数学模型,分析面粉种类、颜色、淀粉、蛋白质、脂肪含量等指标,实现对面粉品质的无损检测。

(1)VNIR高光谱相机下的测试结果


QQ截图20190923164731.jpg

QQ截图20190923164835.jpg

主成分分析图像

通过测试用的是VNIR高光谱相机(波长范围400-1000nm)从光谱图中可以看到在580nm附近有特征峰。

(2) NIR高光谱相机下的测试结果

主成分分析图像

通过测试用的是NIR高光谱相机(波长范围900-1700nm)从光谱图中可以看到在970nm1300nm附近有特征峰。

高光谱成像技术在本应用中的独特优点:

可以同时获取样品图像和光谱信息,该方法具有不破坏样本原貌,不使用化学试剂、检测快速等优点,避免了人工鉴别方法易受主观因素影响,属于在线快速检测和全检,实用性强,性价比高。

1. 无损快速检测

2. 全波段测试

3. 支持集成、二次开发


下表中涂黄部分是此次测试过程中使用的高光谱相机的产品参数:

Spectral

VNIR-S

VNIR-HR

NIR-HR

NIR-HR+

Units

Spectral Range

400 to 1000

900 to 1700

nm

Spectral Resolution

8

<3

5

nm

Spectral Dispersion

1

0.7

3

1.5

nm

Spectral Bands*

892 / 446 / 223

830 / 415 / 208

250

500

-

Spatial pixels

1400

1600

320

640

pix

Maximum line frame rate

120

120

344

300

lf/s

Smile and Keystone error

Sub-pixel across the spectrograph output field

-

Interface

GiGe

-

 

结论

通过采集面粉高光谱图像和可见-近红外光谱信息,进一步建模型分析出面粉中的蛋白质、淀粉、脂肪等的含量,跟国标和常规化学检测方法对比,结果可靠,可实现快速无损检测,且成本低。这能减少整个供应链的浪费,并提高消费者对产品感受的一致性。

 


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