横向剪切波前分析仪

所属类别：? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪
所属品牌：法国Phasics公司

Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上，即4波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。
SID4: 一款紧凑型的波前传感器

SID4波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的优势，安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术（基于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4是测量光束特性的必要工具，在光学测量方面有着许多应用。

波长范围：350-1100nm

分辨率高（160*120）
消色差
测量稳定性高
对震动不敏感
操作简单，Firewire IEEE 1394
结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制
操作简单，Firewire IEEE 1394
结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制
SID4 HR:高分辨率波前传感器

SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测量等

波长范围：400-1000nm

高性能的相机，信噪比高
实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）
曝光时间极短保证动态物体测量
SID4 HR操作简单

SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器

PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。

高分辨率（250*250）
通光孔径大（8.0mm*8.0mm）
覆盖紫外光谱
灵敏度高（0.5um）
优化信噪比
SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器

SID4 NIR是一款覆盖近红外范围（1.5um-1.6um）的高分辨率波前传感器。
用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。

高分辨率（160*120）
绝对测量
快速测量
对于振动不敏感
性价比高

SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器

PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR
光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。
光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等）

高分辨率（96*72）
可实现绝对测量
可覆盖中红外和远红外波段
大数值孔径测量，无需额外中转透镜
快速测量
对振动不敏感
可实现离轴测量
性价比高

SID4软件介绍

与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。
借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。

adaptive optics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学，选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，利于激光光束和成像系统。

传统的测量结果与Phasics的测量结果对比：