在 X 射线衍射粉末样品的分析中,从仪器性能的检验,包括衍射仪的分辨率的检验、峰位的确定等,到粉末样品中各相的定量相分析,以及微量相的精确定量测定(滑石中石棉的检测等),一些特殊相的结晶度和晶胞参数的测定(如伊利石结晶度的测定和 Y 型分子筛含量和晶胞参数标定方法等 ),都离不开 X 射线衍射标样。
XRD定量分析要求样品细度在1um左右,325目,来研究金属和合金的晶体结构
这里,我们仅向大家介绍几种常用的标样。
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