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核心参数
规格： 1个
货号： 4331093
教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。
光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。
光学薄膜测厚仪配件参数
可测膜厚： 100nm-30微米；
波长范围: 300-1000nm
探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D
精度：1%
斑点大小：0.5mm
光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)
所测样品大小：10-150mm,
计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：320x360x180mm
重量：9.2kg
光学薄膜测厚仪配件应用
用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，
用于化学和生物薄膜测量，传感测量
用于光电子薄膜结构测量
用于半导体制造
用于聚合物薄膜测量
在线薄膜测量
用于光学镀膜测量
企业名称
孚光精仪（香港）有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
成立日期
2008-09-30
注册资本
100
经营范围
孚光精仪（中国）有限公司
公司地址
上海黄浦区
客服电话
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