紫外可见近红外探针光谱仪

镜质体反射率测量设计，系统会生成行业标准报告。也可定制测试报告。 • 超过 ISO 7404 和ASTM D2798 标准仪器要求。 • 超过 ISO 7404 和ASTM D2798 标准仪器要求。 • CRAIC technologies的GeoImage™系统是我们用于煤、焦炭和石油源岩镜质体反射率测量的 最快、 最准确的系统。 • GeoImage™系统可以实现自动化，提高性能，降低人工成本。该系统还具有其他成像模式 如高分辨率彩色和荧光显微镜。 • 点数计算也可以作为一个有用的功能添加到单元中。GeoImage™是最尖端的光学岩石学解 决方案。 最小测量光阑直径为1um，其它仪器一般4-20um。 难点：高过成熟样品分析 局限：不适合下古生界样品

阴极发光仪

阴极发光仪是研究岩石矿物组分特征的一种快速简便的分析手段。该方法在快速准确判别石英碎屑的成因和方解石胶结物的生长组构、鉴定自生长石和自生石英以及描述胶结过程等方面得到了广泛的应用，可以深入了解砂岩的原始孔隙度和渗透率，并且获得一系列有关蚀源区地质体的组成、产状、成因的信息。 目前，阴极发光已成为沉积学、石油地质学等研究的一种常规手段，特别是对石英和方解石的发光特征已经进行了很多的研究，形成了一套系统的理论，在沉积成岩型矿床和石英 脉型金矿床研究中得到了广泛地应用。而且，阴极发光仪在判别石油包裹体主矿物的形成世 代与流体包裹体形成期次的研究中是最直接有效的方法。

冷热台简易操作步骤，及温控软件的使用注意事项

冷热台简易操作步骤，及温控软件的使用注意事项在冷热台操作控制软件内有一个操作程序的使用；为Win Temp 软件界面。在表格中对Win Temp 界面各主要部分进行说明。 注意事项 (1) 连接过程保持在不通电源的情况下,最后再倒通电源 (2) 注意水泵始终浸没于水中,定期更换水,防止因为循环冷却导致水温过高而影响冷却效果 (3) 在调试过程中,用过的石英玻璃片要及时清洗,防止因样品残留而导致的温度调节误差

探测器的原理以及激发光源

X射线探测器，AMPTEK主要产品有便携式NaIγ射线探测系统-GAMMA-RAD、X射线及伽玛射线探测器如XR-100CR系列、XR-100/123SDD系列、XR-100CdTe系列及MCA8000A多道分析器等产品。 XR-100/123SDD系列硅漂移X射线探测器，MCA-8000A多道分析器， PX4数字脉冲处理器，XRF-FP定量分析软件，X-荧光能谱技术基本 理论：每种元素原子的电子能级是特征的，它受到激发时产生的X-荧光也是特征的。 X荧光的激发源，为使被测物质产生特征X-射线，即X-荧光，需要 用能量较高的光子源激发。 源激发，放射性同位素物质具有连续发出低能γ-射线的能力， 这种能力可以用来激发物质的X荧光。管激发是指使用X-射线管做 为激发源。 X-射线荧光能谱，物质是由一种元素或多种元素组成的。当光子 源照射到物质上时，物质中各种元素发出混和在一起的各自特征 的X荧光。这些特征的X荧光具有特征的波长或能量，每种荧光的 强度与物质中发出该种荧光元素的浓度相关。

显微操作系统

采用日本Narishige 显微操作系统。Narishige 经济实惠的显微操作系统，有电动、半电动、手动三种选择。主要应用于ICSI、电生理、核移植、转基因等方向。

INSTEC 冷热台系统

INSTEC HCS622G、602 系列冷热台是专业应用在地质方面研究。INSTEC HCS302、HCS 400 系列冷热台是应用于高分子、液晶、聚合物、纤维、半导体、流变等方面的观察样品，以及观察各种样品熔点、相变、形态等方面的冷热台；同时也可做于施加电场条件下液晶 的变化，液晶增长速度等等实验观察；INSTEC 冷热平台应用于半导体研究、液晶测试、化学等方面，能够精确控温，它的表面很平，适于做相关研究。真空型冷热平台多数应用于物理、半导体、电子工程、硅片等方面。 Microscope Hot and Cold Stage HCS601/602 Microscope Hot and Cold Stage HCS402 双炉加热型冷热台，HCS302 标准型冷热台 HCD301/ HCS60/ TSA02i Hot and Cold Stage for Inverted Microscopes。 INSTEC Hot and Cold Plates，Hot and Cold Chucks