2024/05/31 14:46
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产品配置单:
德国徕卡 三离子束切割仪 EM TIC 3X
型号: Leica EM TIC 3X
产地: 德国
品牌: 徕卡
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方案详情:
应用于材料科学研究的样品制备工作流程
通过 TEM、SEM、LM或 AFM表征材料样品时,样品制备是获得最佳结果的关键。要对样品进行 TEM观察时,需要制备非常薄的样品,而使 用 LM、SEM和 AFM进行分析表征,则要求样品表面光滑。最大限度地减少制备过程中的人工痕迹,对提高研究分析的准确性至关重要。 本手册介绍了 Leica最常用的样品制备解决方案。我们的产品将帮助您获得TEM、LM、SEM和 AFM分析所需的结果。如果您有特殊要求或问 题,我们的徕卡专家将随时为您提供帮助。
目录
固态样品制备...............................07
聚合物样品制备...........................11
电子材料和半导体.......................15
金属、陶瓷材料、硬质材料 复合材料加工.................................19
真空转移........................................22
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