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#二次离子质谱
点评IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型
9.5分
仪器通过一次离子束轰击样品表面，产生二次离子，从而进行质量分析，可探测所有元素和化合物，同时具有极高的传输率和质量分辨率。
作者提到的仪器
IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型
发布时间：2023-06-08
飞行时间二次离子质谱仪
束蕴仪器（上海）有限公司
PHI 硬X射线光电子能谱仪
爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司
IONTOF / 超高分辨TOFSIMS / TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS
北京艾飞拓科技有限公司（IONTOF中国代表处）
多重离子束组织质谱成像系统-MIBIscope
上海沃埃得贸易有限公司
