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#二次离子质谱
点评IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型
9.0分
该设备可以非常精确地测量样品中的化合物和元素，可以在常规表面分析中取得出色的结果。
作者提到的仪器
IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型
发布时间：2023-06-04 11:27
飞行时间二次离子质谱仪
束蕴仪器（上海）有限公司
PHI 硬X射线光电子能谱仪
爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司
IONTOF / 超高分辨TOFSIMS / TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS
北京艾飞拓科技有限公司（IONTOF中国代表处）
多重离子束组织质谱成像系统-MIBIscope
上海沃埃得贸易有限公司
