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X射线散射仪（XRD）是一种常用的材料分析仪器，通过测量材料对入射X射线的散射来确定材料的结构信息。它是通过将单色（具有相同波长的）X射线照射在样品上，然后检测散射X射线方向和强度的变化来进行分析。 当入射X射线照射在样品上时，样品中的原子或离子会吸收并重新发射出X射线，这些散射出来的X射线会具有与入射X射线不同的方向和能量。通过测量这些散射出来的X射线的方向和能量可以获得材料内部结构的信息。 XRD主要用于分析晶体结构、确定元素组成、分析非晶态物质等，在材料科学、地质学、生物学等领域都有广泛应用。
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