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■ 红外吸收光谱测量范围:2-10µm(MCT)/1-5.5µm(InSb)
■ 时间分辨率:<50ns(MCT)/<25ns(InSb)
■ 碳化硅红外辐射源,波长范围1-16µm
■ 镀金反射镜,增加红外光收集效率
■ 红外辐射源既可做为加热源,又可做为光谱透射测量的辐射源
■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收),也可测量时间分辨红外光谱
■ 红外吸收光谱测量范围:2-10µm(MCT)/1-5.5µm(InSb)
■ 时间分辨率:<50ns(MCT)/<25ns(InSb)
■ 碳化硅红外辐射源,波长范围1-16µm
■ 镀金反射镜,增加红外光收集效率
■ 红外辐射源既可做为加热源,又可做为光谱透射测量的辐射源
■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收),也可测量时间分辨红外光谱
■ 红外吸收光谱测量范围:2-10µm(MCT)/1-5.5µm(InSb)
■ 时间分辨率:<50ns(MCT)/<25ns(InSb)
■ 碳化硅红外辐射源,波长范围1-16µm
■ 镀金反射镜,增加红外光收集效率
■ 红外辐射源既可做为加热源,又可做为光谱透射测量的辐射源
■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收),也可测量时间分辨红外光谱
探测器光谱响应测量系统
型号:DSR100 面议眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统
型号:ZL-xx 面议组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列
型号:OmniPL系列 20万 - 30万荧光光谱测量系统
型号:OmniFluo系列 20万 - 30万光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL(光致荧光)光谱仪;MiniPL采用Photon Systems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源,配合独特的光路设计,采用高灵敏度PMT作为探测器件,并通过仪器内置的门闸积分平均器(Boxcar)进行数据处理,实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等,不仅可用于科研领用,更可用在半导体LED产业中的品质检测。
介绍卓立汉光公司自产和代理的荧光光谱仪、稳态荧光光谱仪、组合式荧光光谱系统、PL光致发光光谱系统等详细的介绍。
卓立汉光光栅光谱仪ZLX-AS的工作原理介绍
光栅光谱仪ZLX-AS的使用方法?
卓立汉光ZLX-AS多少钱一台?
光栅光谱仪ZLX-AS可以检测什么?
光栅光谱仪ZLX-AS使用的注意事项?
卓立汉光ZLX-AS的说明书有吗?
卓立汉光光栅光谱仪ZLX-AS的操作规程有吗?
卓立汉光光栅光谱仪ZLX-AS报价含票含运吗?
卓立汉光ZLX-AS有现货吗?
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