产地类别： 进口
看了X光电子能谱仪(XPS/ESCA)的用户又看了
仪器简介：
美国专利 日本技术 90%市场占有率 是金属/半导体材料研发和故障分析的有力工具。空间分辨率高，信息深度5纳米以内
技术参数：
俄歇电子能谱仪
• He以上所有元素纳米（约5nm）表面定性/表面定量/亚表层以及深度方向信息
1） 成分
2） 图像
3） DETECT LIMIT 0.1%
4） 最小束斑 6纳米
5） 仪器型号PHI 700 清华，宝钢2004，2005年购买
6） 报价 不含税100万美金
主要特点：
He以上所有元素纳米（约5nm）表面定性/表面定量/亚表层以及深度方向信息
X光电子能谱PHI700 SAM的工作原理介绍
X光电子能谱PHI700 SAM的使用方法?
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