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HALT/HASS 加速寿命增长试验箱
HALT & HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT & HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外，许多国际的3C电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。www.531718.com
HALT 的主要测试功能如下：
* 利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；
* 了解产品的设计能力及失效模式；
* 作为高应力筛选及稽核规格制定的参考；
* 快速找出产品制造过程的瑕疵；
* 增加产品的可靠性，减少维修成本；
* 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并可缩短设计制造周期。
HALT应用于产品的研发阶段，能够及早发现产品可靠性的薄弱环节。其所施加的应力要远远高于产品在正常运输﹑贮藏﹑使用时的应力。
HASS应用于产品的生产阶段，以确保所有在HALT中找到的改进措施能够得已实施。HASS还能够确保不会由于生产工艺和元器件的改动而引入新的缺陷。
HASS包含如下内容：
* 进行预筛选，剔除可能发展为明显缺陷的隐性缺陷；
* 进行探测筛选，找出明显缺陷；
* 故障分析；
* 改进措施。
参数指标：
温度范围： -100°C~+200°C
温度变化: 60°C/min
加速度: 60 grms
频率范围: Up to 10 KHz
HASS包含如下内容：
* 进行预筛选，剔除可能发展为明显缺陷的隐性缺陷；
* 进行探测筛选，找出明显缺陷；
* 故障分析；
* 改进措施。
参数指标：
温度范围： -100°C~+200°C
温度变化: 60°C/min
加速度: 60 grms
频率范围: Up to 10 KHz
HALT 的主要测试功能如下：
* 利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；
* 了解产品的设计能力及失效模式；
* 作为高应力筛选及稽核规格制定的参考；
* 快速找出产品制造过程的瑕疵；
* 增加产品的可靠性，减少维修成本；
* 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并可缩短设计制造周期。
HALT应用于产品的研发阶段，能够及早发现产品可靠性的薄弱环节。其所施加的应力要远远高于产品在正常运输﹑贮藏﹑使用时的应力。
HASS应用于产品的生产阶段，以确保所有在HALT中找到的改进措施能够得已实施。HASS还能够确保不会由于生产工艺和元器件的改动而引入新的缺陷。
